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BW-GDW-660
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标題:芯片分選機的背景技術 |
簡介:IC芯片完成(chéng)加工制造工序後(hòu),需要一一進(jìn在線GO)行測試和分類,芯片分類存放有利于芯片的合理使用。測試分選機是將(ji成全丁香花āng)已經(jīng)通過(guò)預定制造工序制造的半導體裝置電連接至測試器并且根據丁香花丁香花測試結果將(jiāng)半導體裝置分類的設備。最初,人們對(duì)芯片測試後(hòu免費視頻),是靠人工分類放置的,不僅效率低,還(hái)容易發(fā)生錯誤丁香花姐姐。現有技術中已有自動測試分選機,例如專利公開(kāi)号:CN102698飄雪噼裡969A,公開(kāi)日:2012年10月03日,發(fā)明創造名稱視頻成全為:一種(zhǒng)IC芯片自動測試分選機,該申請案公開(kāi)了一種(飄雪資源zhǒng)IC芯片自動測試分選機,包括可將(jiāng)堆積的實料盤影院丁香花逐一分離的上料實托盤分離輸入裝置,和料船模組裝置。包括受控于伺服電機左右擺動的用于國語大地放置待測芯片的左料船和用于放置測試後(hòu)芯片的...... 直播TV[詳細] |
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